第四百二十七章：全世界的变革，占尽先机的华国 (10 / 12)

        “对于芯片的测试，无论级别，都有着严格的要求。”

        将漆黑的芯片放入测试仪器中并固定好后，韩元开口解释道，沉闷的声音透过口罩传递到直播间里面。

        “一块集成电路芯片的测试主要有三大分类。”

        “分别是晶圆测试、芯片测试和封装测试。”

        “每一步测试都有对应的设备来进行，比如晶圆测试主要设备是探针平辅助设备，以及对应的无尘室及其全套设备。”

        “其中晶圆测试就不多说了，之前大家应该都看过。”

        顿了顿，韩元想起了什么，又补充道：

        “当然，在之前的直播中，不止时單晶硅晶圆我展示過测试，还是石墨烯单晶晶圆，硅基芯片的芯片测试、封装测试我都展示過，只是并没有细致讲解。”

        “现在碳基芯片因为是第一次测试，所以我会详细展示一下它的测试流程。”

        说着，韩元也同步开始了碳基芯片的固定，预留引脚焊接等工作。

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